TPM 射線探傷滲透檢測(cè)內(nèi)容
來(lái)源/作者： TPM咨詢(xún)服務(wù)中心 丨 發(fā)布時(shí)間：2017-04-20 丨 瀏覽次數(shù)：
TPM管理培訓(xùn)公司總結(jié)射線探傷：
探測(cè)金屬材料或部件內(nèi)部的裂紋或缺陷。常用的探傷方法有:X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷等方法。物理探傷就是不產(chǎn)生化學(xué)變化的情況下進(jìn)行無(wú)損探傷。
射線探傷技術(shù)和滲透檢測(cè)技術(shù)都屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的類(lèi)型，下面分別介紹一下這兩種技術(shù)： 射線探傷技術(shù)基本原理射線檢查技術(shù)是常用的重要的檢測(cè)技術(shù)，用以檢測(cè)材料內(nèi)部的缺陷。常用的射線有兩種類(lèi)型，即Υ射線和x射線。
設(shè)備射線探傷
射線具有極強(qiáng)的穿透能力，從材料的一個(gè)側(cè)面照射，射線穿透材料，使另一面的膠片感光，顯示出檢測(cè)到的缺陷。還可以轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光，用電視攝像來(lái)顯示探測(cè)到的缺陷。X射線計(jì)算機(jī)斷層分析可確定缺陷的位置和空間尺寸。
技術(shù)應(yīng)用及特點(diǎn)
射線檢測(cè)主要用于檢查鑄件的縮孔、氣孔、非金屬夾渣等，焊縫的不連續(xù)性缺陷等。
其特點(diǎn)是檢測(cè)缺陷直觀、底片可長(zhǎng)期保存、適用材料的范圍廣、成本低、操作人員業(yè)務(wù)能力和經(jīng)驗(yàn)水平較射線檢測(cè)技術(shù)超聲波檢測(cè)要求低。
兩種射線技術(shù)比較如下：
X射線檢測(cè)技術(shù)：儀器尺寸大、不便于攜帶、穿透力較高，用于較厚材料、不衰減、可調(diào)節(jié)射線源強(qiáng)度、對(duì)人體有害、需要電源。
γ射線檢測(cè)技術(shù)：儀器尺寸小、便于攜帶、穿透力強(qiáng)，用于厚壁材料、衰減、射線源強(qiáng)度不可調(diào)、對(duì)人體危害大、不需電源。
滲透檢測(cè)技術(shù)
滲透檢測(cè)技術(shù)是將滲透劑涂于清潔的被檢查的部件表面上，如果表面有開(kāi)放性缺陷時(shí)，滲透劑則滲透到缺陷中去，去處表面多余的滲透劑，再涂以顯影劑，缺陷就會(huì)顯現(xiàn)出痕跡，采用天然光或紫外線光觀察，判斷缺陷的種類(lèi)和大小。
基本操作方法
清洗——去除金屬表面的油污、銹斑及涂料等，待干燥。涂以滲透劑，大約5分鐘后，將表面的滲透劑用水或溶劑清除。
顯像——將顯影劑噴涂在金屬表面，干燥后如有缺陷很快就顯示出來(lái)。如使用顯影劑，則使用紫外線照射下觀察缺陷。
清除表面的顯影劑。注意有些滲透劑可能含氯化物，不能用于奧氏體不銹鋼。
適用范圍
滲透射線探傷適用于檢測(cè)各種材料和各種形式的構(gòu)件表面缺陷。其設(shè)備簡(jiǎn)單，便于攜帶，操作簡(jiǎn)單易學(xué)，檢測(cè)的效果直觀，成本低廉，用于表面開(kāi)放形的缺陷。只對(duì)缺陷作出定性判斷，憑經(jīng)驗(yàn)對(duì)缺陷的深度作出粗略的估計(jì)。
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